詳細信息
HAST高加速壽命試驗機用途：
半導體的HAST高加速壽命試驗機測試:最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。
HAST高加速壽命試驗機的詳細信息:
一.選型示意：
◇R-HAST–350-2
◇R：艾思荔標志
二.產品規格(mm)：
◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000
◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100
三.產品簡單介紹：
◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗機,PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化
◇壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,
◆技術優勢：
◇獨家采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷.
◇試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
艾思荔的主營產品有：HAST高加速壽命試驗機,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環境試驗設備以及制程設備,有數十個系列近百種產品。
半導體的HAST高加速壽命試驗機測試:最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中,常見的故裝原因：爆米花效應、動金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路..等相關問題。
HAST高加速壽命試驗機的詳細信息:
一.選型示意：
◇R-HAST–350-2
◇R：艾思荔標志
二.產品規格(mm)：
◇型號:HAST-250工作室尺寸:Φ250×D400外形尺寸D×W×H650×560×1000
◇型號:HAST-300工作室尺寸:Φ300×D500外形尺寸D×W×H700×650×1100
三.產品簡單介紹：
◇高壓鍋,PCT高壓加速壽命試驗機,PCT高壓蒸煮儀,高壓高濕蒸煮儀,HAST非飽和型高壓加速試驗機,加速老化
◇壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,
◆技術優勢：
◇獨家采用全自動補充水位之功能,試驗永不中斷.
◇試驗過程的溫度、濕度、壓力,是真正讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計算出來的,能夠真正掌握實際的試驗過程。
艾思荔的主營產品有：HAST高加速壽命試驗機,HAST高度加速壽命試驗機,可程式恒溫恒濕試驗箱、高低溫熱濕試驗箱、步入式恒溫恒濕試驗室、高低溫試驗箱、快速溫變高低溫試驗機、冷熱沖擊試驗箱、溫度沖擊箱、鹽霧試驗機、鹽干濕復合鹽霧試驗機、老化試驗箱、高溫干燥箱、高溫烤箱、UV紫外線耐氣候試驗機、真空烤箱等可靠性環境試驗設備以及制程設備,有數十個系列近百種產品。
